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新虫求教，请问对于半导体材料的表征国外有什么新的手段
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如题， 我对于材料的微观形貌通过扫描电子显微镜(SEM)观察，它的分子结构红外光谱(IR)及X射线光电子能谱(XPS)来分析，电导率采用四探针测试 请问，现在还有没有比较新的表征方法？谢谢 |
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3楼2007-09-01 11:38:19