| 查看: 800 | 回复: 0 | ||
tianqin金虫 (小有名气)
|
[求助]
求助关于SEM成像问题
|
|
求助：最近用SEM对薄膜上的晶点进行检测，薄膜的厚度约100um，薄膜为透明聚碳酸酯膜，晶点有可能在表面也可能在膜内（晶点很小，直径<100um），之前用光学纤维镜（×200）下观测到晶点内存在长条状杂质，但是采用SEM却没看到任何东西。因此，怀疑是不是由于SEM扫面不到内部而没有观测到在长条状杂质？若是这样，SEM一般能够看表面多深的距离？ 谢谢 |
回复此楼» 猜你喜欢
关于水星近日点进动成因的质疑 与实证分析
已经有9人回复
-
婚姻里的赢家
已经有6人回复
-
航天502所 高瑛珂博士 婚内征婚 欺骗女性开房
已经有31人回复
-
祈祷自己至少3A2B上会啊！
已经有7人回复
-
你们遇到过吗
已经有4人回复
-
山东省优青 青B通知了？？？？
已经有3人回复