| 查看: 768 | 回复: 0 | ||
tianqin金虫 (小有名气)
|
[求助]
求助关于SEM成像问题
|
|
求助：最近用SEM对薄膜上的晶点进行检测，薄膜的厚度约100um，薄膜为透明聚碳酸酯膜，晶点有可能在表面也可能在膜内（晶点很小，直径<100um），之前用光学纤维镜（×200）下观测到晶点内存在长条状杂质，但是采用SEM却没看到任何东西。因此，怀疑是不是由于SEM扫面不到内部而没有观测到在长条状杂质？若是这样，SEM一般能够看表面多深的距离？ 谢谢 |
回复此楼» 猜你喜欢
289求调剂
已经有6人回复
-
291求调剂
已经有17人回复
-
材料与化工085600，总分304，本科有两篇sci参与，求调剂
已经有12人回复
-
277跪求调剂
已经有7人回复
-
一志愿北京化工大学 070300 学硕 336分 求调剂
已经有9人回复
-
求调剂推荐 材料 304
已经有13人回复
-
07化学280分求调剂
已经有10人回复
-
考研调剂
已经有3人回复
-
材料292调剂
已经有12人回复
-
化学调剂
已经有4人回复
