| 查看: 745 | 回复: 0 | ||
tianqin金虫 (小有名气)
|
[求助]
求助关于SEM成像问题
|
|
求助：最近用SEM对薄膜上的晶点进行检测，薄膜的厚度约100um，薄膜为透明聚碳酸酯膜，晶点有可能在表面也可能在膜内（晶点很小，直径<100um），之前用光学纤维镜（×200）下观测到晶点内存在长条状杂质，但是采用SEM却没看到任何东西。因此，怀疑是不是由于SEM扫面不到内部而没有观测到在长条状杂质？若是这样，SEM一般能够看表面多深的距离？ 谢谢 |
回复此楼» 猜你喜欢
国自然申请面上模板最新2026版出了吗？
已经有11人回复
-
推荐一本书
已经有12人回复
-
基金申报
已经有4人回复
-
计算机、0854电子信息（085401-058412）调剂
已经有4人回复
-
溴的反应液脱色
已经有6人回复
-
纳米粒子粒径的测量
已经有7人回复
-
常年博士招收(双一流，工科)
已经有4人回复
-
参与限项
已经有5人回复
-
有没有人能给点建议
已经有5人回复
-
萌生出自己或许不适合搞科研的想法，现在跑or等等看？
已经有4人回复