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关于FFT,二维晶格和纳米颗粒表面指数的标定的问题
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5楼2012-11-12 23:47:31
temedx
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kunpeng1782: 金币+5, MN-EPI+1, 多谢专家指导 2012-11-10 13:02:42
dswu: 金币+10 2012-11-12 23:48:06
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kunpeng1782: 金币+5, MN-EPI+1, 多谢专家指导 2012-11-10 13:02:42
dswu: 金币+10 2012-11-12 23:48:06
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1. 是的,立方晶系的所有带轴都是这样,晶面和带轴可以用同一指标。一般来说只能代表观察面,但这个例子特殊,每个面都一样,所以可以代表所有面。作者也用大括号{110}表示了这个观点。 2. SAED可以选择孪晶界面做衍射,就会有特殊的衍射点出现,至于为什么可以看看章晓中教授的那本电子显微分析。但如果选取的位置没有包含孪晶界面,那么自然出现的也就是纯单晶衍射点。 |
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2楼2012-11-10 06:39:51
送鲜花一朵 3楼2012-11-10 10:34:23
temedx
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抱歉回复晚了。 1. 20 nm的晶粒的确拍摄SAED有些难度,因为选区范围内很难保证只有一个颗粒,即便只有一个,由于纳米颗粒周期性范围短,产生的衍射信号相对较弱,需要比较长的时间才能倾转好带轴,而且转好之后也有可能因为颗粒的形状不是平面状的,会有颗粒翻滚的可能,导致拍摄过程相对漫长且考验人的耐心,所以很多人直接用HRTEM的图做FFT来代替SAED。 2. 暴露面和带轴并不是等同的,你不要考虑孪晶的问题,一个单晶纳米晶体转好带轴,拍HRTEM,暴露面很多并不是正对电子束,也就是说多数不是90度夹角,那么暴露面就基本不会和带轴一致了。所以上图没有任何问题。 3. 至于孪晶,其实如果孪晶面和电子束平行的话,两边的晶体取向是完全一致的。 |
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4楼2012-11-12 21:19:25










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