[交流] 测得的薄膜伏安曲线整体沿Y轴方向下移，急急急。。。

用半导体参数分析仪测得的I~V曲线，整体沿Y轴方向下移，以至于出现电压为0时对应的电流明显不为0，而是负的，所有样品都是这样。这是怎么回事啊，急急急。。。。不会分析，大家帮帮忙啊，谢谢啦！！！
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1楼 2012-10-20 16:49:10

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李楚兮

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9楼: Originally posted by qingqiu at 2013-01-03 16:19:14
4200SCS,偏离电流数量级大概为10（-9），并且在输出曲线中电流随电压增大而减小，请问楼主是否遇到过这种情况...

我之前用的也是这个型号的，后来用了新买的B1500A的半导体参数仪，基本上就不偏了，我认为这主要是所用仪器的偏差造成的，因为我把4200SCS的探针悬空，所得线也在Y轴下方，偏离量与测试样品时的偏移量基本吻合。
至于你说的“输出曲线中电流随电压增大而减小”的现象，我也遇到过，不过仅仅局限于测试起始电压附近，不知你的具体是怎样的，因为我做的是介质薄膜，我认为主要是电容的一个充电效应，因为尝试多次做短暂充电，这种情况就消失了。