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kalimdor43

新虫 (初入文坛)

[求助] 关于XRD的入射角跟小角度的意思

就是incident angle跟low incident angle的意思
XRD我不是很懂,但做实验需要做到
只知道减少入射角可以减少穿透深度,提高表面目标晶相的检测量
请问这个小角度就是掠入射吗?我看文献有写按3° 5° 8° 10° 14°这样改变入射角获得不同的值,但我查的掠入射的角度都是非常低的
如果跟掠入射不一样的话,要怎么做检测?

待检测的是氧化锆(非薄膜)表面的单斜晶相
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whd博士

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★
感谢参与,应助指数 +1
kalimdor43: 金币+1, ★★★很有帮助 2012-09-18 19:26:19
我记得是,就是在低掠入射角条件下进行XRD检测,不过多数是分析薄膜材料的。
2楼2012-09-18 17:05:13
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kalimdor43

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
2楼: Originally posted by whd博士 at 2012-09-18 17:05:13
我记得是,就是在低掠入射角条件下进行XRD检测,不过多数是分析薄膜材料的。

谢谢.就是得换附件做掠入射了?
3楼2012-09-18 17:10:59
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whd博士

木虫 (著名写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by kalimdor43 at 2012-09-18 17:10:59
谢谢.就是得换附件做掠入射了?...

嗯,你查的文献的说法应该是合理的,只是有些地方认为小角度掠入射最好在10度以下,不过也有不这么认为的。参考下,根据自己的样品再定吧。
4楼2012-09-18 17:25:53
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kalimdor43

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
4楼: Originally posted by whd博士 at 2012-09-18 17:25:53
嗯,你查的文献的说法应该是合理的,只是有些地方认为小角度掠入射最好在10度以下,不过也有不这么认为的。参考下,根据自己的样品再定吧。...

感谢!
5楼2012-09-18 19:25:30
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wenguang

银虫 (小有名气)

建议你看下物理所麦正洪老师的书《薄膜结构X射线表征 》,里面有讲到
成功是成功者的通行证,失败是失败者的墓志铭
6楼2012-09-20 22:43:24
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