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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 功能薄膜 » 做外延三五族氮化物薄膜，有时需要高阻材料，这是为什么？
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MANOWAR

金虫 (正式写手)

[交流] 做外延三五族氮化物薄膜，有时需要高阻材料，这是为什么？

也就是说，高阻氮化物薄膜有什么用途？电阻如何测量？貌似是用霍尔测试比较困难。
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1楼 2012-09-09 21:39:17
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alienpig

木虫 (正式写手)
★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
蒋青松: 金币+1, 鼓励交流 2012-09-10 08:08:56
楼主指的高电阻薄膜是什么？是用在什么方面？问题太宽泛了
一般来讲，做mosfet或者hemt，需要接近本征或者是补偿掺杂的半导体做cap或者buffer，也就是高阻。以减小Gate leakage和drain-substrate leakage。
霍尔效应的确超量程，不过这种电阻值一般不需要知道啊。
希望有帮助
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MANOWAR
2楼2012-09-10 00:05:17
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alienpig

木虫 (正式写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
引用回帖:
3楼: Originally posted by MANOWAR at 2012-09-10 08:57:35
谢谢您的回答~
其实就是蓝宝石上外延的GaN薄膜，很多研究或者介绍都说非故意掺杂的GaN显示为n型，并且背景载流子浓度也挺高，于是我就想知道一下外延的GaN薄膜电阻率应该为多少，但是测不太出来。
为什么背景电子 ...

大侠算不上，矬人一个
我试着说一说吧，一般认为会有蓝宝石中的氧扩散进buffer，导致杂质高，但并不一定导致电阻值大，因为可能会有mocvd时引入的C杂质，类似补偿掺杂。另外，一般用作hemt的wafer中buffer会进行Fe掺杂，进行补偿。
至于漏电，我也不是很清楚，个人理解是如果衬底漏电，那么相当于增加了一个导电通路，bulk的迁移率肯定低于2DEG的，对gm，Id肯定是很不利的。也就电子Drain->Sub->Source。Gate-Drain leakage和击穿有关系吧。
介质什么的工艺一直都是难点吧，表面有很多trapping，我记得还有一个什么电流崩塌效应就跟这个有关。
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4楼2012-09-11 01:46:22
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