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样品处理方式是否会对XRD衍射峰强度造成影响？
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| rt，同一个测试样品按照两种方式制样，得到的数据差别很大：一个测试是将样品从薄膜上刮下来，研成粉末，测得的XRD衍射峰强度很低，另一个测试是将样品薄膜剪片直接拿去测试，得到的衍射峰个数和位置与粉末样品相同，但最强峰的峰强提高了近10倍，其他衍生峰的强度变化不大。搞不明白这是怎么回事？请高手回答。 |
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