| 查看: 288 | 回复: 2 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
口十木虫 (正式写手)
|
[交流]
二次离子质谱SIMS
|
||
|
一、简介 二、离子与表面的相互作用 三、溅射的基本规律 四、二次离子发射的基本规律 五、二次离子质谱分析技术 六、二次离子分析方法 七、二次离子质谱的研究新方向 八、总结 SIMS的主要特点： 1. 具有很高的检测极限 对杂质检测限通常为ppm，甚至达ppb量级 2. 能分析化合物，得到其分子量及分子 结构的信息 3. 能检测包括氢在内的所有元素及同位素 4. 获取样品表层信息 5. 能进行微区成分的成象及深度剖面分析 |
回复此楼» 猜你喜欢
290求调剂
已经有9人回复
-
0856化工专硕求调剂
已经有6人回复
-
0856材料专业298分有科研经历 硕士研究生调剂自荐信
已经有6人回复
-
材料化工调剂
已经有7人回复
-
化工299分求调剂 一志愿985落榜
已经有3人回复
-
306分材料调剂
已经有4人回复
-
302材料工程求调剂
已经有5人回复
-
272求调剂
已经有5人回复
-
材料学调剂
已经有9人回复
-
321求调剂一志愿东北林业大学材料与化工英二数二
已经有6人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
 本帖仅楼主可见 |
2楼2007-05-25 11:59:49
