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[交流] 求助:如何用Winxpow软件对x衍射数据指标化

各位新老虫虫们,我想利用x衍射数据计算晶胞体积,听说要用Winxpow软件对x衍射数据指标化,然后------我不懂得怎么用,希望热心人士给与帮助呀,急!!
或者谁能告诉我除此之外,有什么办法可以计算烧结后陶瓷片的理论密度,已测xrd-----
(不知道说清楚没有,谢谢了先

)
[search]xrd 指标化[/search]

[ Last edited by hotwind514 on 2007-5-17 at 10:43 ]

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1楼 2007-05-17 10:38:46

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dielectric

铁杆木虫 (正式写手)

应助: 0 (幼儿园)
贵宾: 0.05
金币: 5426.9
帖子: 520
在线: 78.1小时
虫号: 94519
注册: 2005-09-27
性别: GG
专业: 无机非金属类光电信息与功

引用回帖:

Originally posted by hotwind514 at 2007-5-17 10:38 AM:
各位新老虫虫们,我想利用x衍射数据计算晶胞体积,听说要用Winxpow软件对x衍射数据指标化,然后------我不懂得怎么用,希望热心人士给与帮助呀,急!!
或者谁能告诉我除此之外,有什么办法可以计算烧结后陶瓷片的理论密 ...

这个不是几句话说清楚的。
如果你用的XRD是STOE，那么源文件是raw格式，直接用Winxpow 打开，Raw data-Graphics, 然后Options-find peaks. 这一步会有一些选项，比如峰宽，强度，点击确定后会根据你的选项把某些峰标出来，然后write peakfile，这样就得到了Pks 格式的文件。

然后cell-index&refine,打开刚才的pks文件，如果你知道大概的信息（可以查JCPDS卡片），比如说空间群和晶格参数，系统会采用迭代的办法算出来。如果什么不知道（这种情况不多），中间有个选项，系统会给出一些可能的结构和晶胞参数，然后再输进去去算。

如果真要算晶胞参数，那你一定在STOE PSD（position sensitive dector)上运行你的样品，并且用Si作内标。情况要复杂一些。

如果你单单想知道理论密度，打开Winxpow，那里面的数据库里面列出了所有的JCPDS卡片，上面有理论密度，还有理论的晶胞体积，可能跟你的样品由一些差异，但一般来说相差很小。