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[交流]
求助:如何用Winxpow软件对x衍射数据指标化
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各位新老虫虫们,我想利用x衍射数据计算晶胞体积,听说要用Winxpow软件对x衍射数据指标化,然后------我不懂得怎么用,希望热心人士给与帮助呀,急!! 或者谁能告诉我除此之外,有什么办法可以计算烧结后陶瓷片的理论密度,已测xrd----- (不知道说清楚没有,谢谢了先  )[search]xrd 指标化[/search] [ Last edited by hotwind514 on 2007-5-17 at 10:43 ] |
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hanhaixf-77
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dielectric
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这个不是几句话说清楚的。 如果你用的XRD是STOE，那么源文件是raw格式，直接用Winxpow 打开，Raw data-Graphics, 然后Options-find peaks. 这一步会有一些选项，比如峰宽，强度，点击确定后会根据你的选项把某些峰标出来，然后write peakfile，这样就得到了Pks 格式的文件。 然后cell-index&refine,打开刚才的pks文件，如果你知道大概的信息（可以查JCPDS卡片），比如说空间群和晶格参数，系统会采用迭代的办法算出来。如果什么不知道（这种情况不多），中间有个选项，系统会给出一些可能的结构和晶胞参数，然后再输进去去算。 如果真要算晶胞参数，那你一定在STOE PSD（position sensitive dector)上运行你的样品，并且用Si作内标。情况要复杂一些。 如果你单单想知道理论密度，打开Winxpow，那里面的数据库里面列出了所有的JCPDS卡片，上面有理论密度，还有理论的晶胞体积，可能跟你的样品由一些差异，但一般来说相差很小。 |
5楼2007-05-19 06:06:21
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