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求助：SEM取向成像电子显微分析系统（OMI/EBSP）所需试样的制备
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| OIM/EBSP分辨率达1300×1024以上，灰度4096，角度分辨率达0.5°以上，用来采集和分析扫描电镜中的电子背散射衍射花样，相鉴定数据库包揽七大晶系。但其对试样的要求很高，特别是试样表面应没有应力，所以向高手求教试样的制备。不胜感谢！ |
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5楼2007-05-16 12:53:22
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