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求助:SEM取向成像电子显微分析系统(OMI/EBSP)所需试样的制备
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| OIM/EBSP分辨率达1300×1024以上,灰度4096,角度分辨率达0.5°以上,用来采集和分析扫描电镜中的电子背散射衍射花样,相鉴定数据库包揽七大晶系。但其对试样的要求很高,特别是试样表面应没有应力,所以向高手求教试样的制备。不胜感谢! |
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sijun
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5楼2007-05-16 12:53:22
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