【答案】应助回帖

银鞍照白马，飒踏如流星

11楼2012-06-15 14:40:32

ggz51

铁杆木虫 (正式写手)

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10楼: Originally posted by diwunju at 2012-06-15 10:50:05
两种方法都不靠谱。谢尔公式使用的时候要去掉仪器宽度，你放一块单晶去测，无限大晶体，测出来也是有线宽的。去掉仪器宽度这一步比较麻烦，如果不去算出来当然都是偏小的。AFM测的不是grain size，只是表面起伏，就 ...

谢谢，呵呵

12楼2012-06-15 18:18:06

philosong

木虫 (著名写手)

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xrd扣除仪器的展宽，得到的是结晶晶粒的平均尺寸。而AFM纯粹是形貌上的尺寸。

生活就是生活

13楼2012-06-17 11:46:14

zhangyuyue

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8楼: Originally posted by wangqijun6561 at 2012-06-15 09:36:59
这两中方法没有可比性，我个人觉得，AFM更加直观，可信度想对高一点。XRD的谢乐公式，仅仅是估算，没有什么实际的意义。如果你需要看的是烧结体的Grain,你可以选择SEM或TEM，如果你需要看的是粉体，你可以选择XRD的 ...

AFM看的是相图？高度图应该看不出结晶吧？

14楼2012-12-06 12:44:04

jiaodadequn

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2楼: Originally posted by wxzlcx at 2012-06-14 14:41:47
两个测出的结果确实应该有区别：
XRD测试出来的晶粒尺寸是样品的平均结果，AFM看到的是样品的局部结果。XRD测出的是晶粒尺寸，而AFM看到的是表面颗粒大小，有可能是晶粒也有可能不是。另外，AFM的结果受针尖的影响 ...

AFM看晶粒大小还没用过，它用来测量表面粗超度或一些其他物理性质（模量等）比较靠谱，晶界没有经过腐蚀是没有明显的高低起伏的，AFM应该没用。30nm左右的晶粒看来只有TEM了，但TEM太微观了，很难反映整体的情况。

15楼2012-12-06 16:52:50