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ggz51

铁杆木虫 (正式写手)

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[求助] XRD和AFM测得的晶粒尺寸

请问，通过XRD用谢乐公式计算的晶粒尺寸是crystal size吧？那用AFM测得的尺寸（mean diameter）是什么？是所谓的grain size么？两者有什么联系？是不是多个crystal 合成一个grain？
那我用谢乐公式计算的尺寸是30nm，而用AFM测出的有100nm左右，这说明什么呢？说明三四个crystal 合成了一个grain？有点少吧？
谢谢大家啊~~

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1楼2012-06-14 09:17:12

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jiaodadequn

新虫 (初入文坛)

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引用回帖:

2楼: Originally posted by wxzlcx at 2012-06-14 14:41:47
两个测出的结果确实应该有区别：
XRD测试出来的晶粒尺寸是样品的平均结果，AFM看到的是样品的局部结果。XRD测出的是晶粒尺寸，而AFM看到的是表面颗粒大小，有可能是晶粒也有可能不是。另外，AFM的结果受针尖的影响 ...

AFM看晶粒大小还没用过，它用来测量表面粗超度或一些其他物理性质（模量等）比较靠谱，晶界没有经过腐蚀是没有明显的高低起伏的，AFM应该没用。30nm左右的晶粒看来只有TEM了，但TEM太微观了，很难反映整体的情况。