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月下冰魂木虫 (正式写手)
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XRD的mapping测试（三轴衍射）中， rlu是什么单位？数据怎么分析
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我用四晶衍射的XRD的三轴衍射（mapping）测试SiGe/Si 样品（omega、omega/2Theta）。在x‘pert Epitaxy 中，用reciprocal space（倒空间）方式打开图谱，横纵坐标为Qx,Qy,但是单位是rlu，这是什么单位呢？与/nm有什么转换公式吗？ 我想要分析晶格失配与晶格常数等信息，期待高手指导！！！ 图一为正空间显示的数据，图二为倒空间方式显示的数据。  正空间  倒空间 |
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- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
2楼2012-04-17 14:44:41