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zcc1518银虫 (小有名气)
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XRD
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问题一：XRD的峰形还可以判断此晶体属于那种晶型（网友说的），请问怎样由XRD的峰形判断晶体属于那种晶型？ 问题二：“衍射数据多收集一些。许多同事为了节省机时，数据收集的分辨率为0.80甚至就卡在能够发表文章的0.83，如果你把分辨率扩大到0.75或者0.70，你就有了更多的数据”， 请问 ： 数据 的分辨率是怎么回事？ 在测XRD的时候数据的分辨率需要注意哪些问题？ 问题三：“在收集数据之前，填写尽量正确的晶体大小。这个有助于在衍射数据后处理，吸收校正得到好的结果。吸收校正处理数据影响Rint值，也影响结构解析后的电子残余密度峰数值的大小，所以不要忽略晶体的实际尺寸。” 请问： Rint值是什么东东？ 电子残余密度峰数值又是什么东东？ 问题四：我做的在基片(单晶硅片)上生长纳米线，在测试XRD的时候需不需要把纳米线从基片刮下来测，应为我看的很多师兄测得是粉末样 直接发在一个载片子的凹槽内，然后抹平， 请问：我测样的时候怎么弄，需不需要刮，再者不挂的话，放在载片子的凹槽内会不会有影响？ |
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