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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料物理 » 我用AFM测出多层膜的表面粗糙度，这能间接反应界面的粗糙度情况？
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柠檬树

新虫 (著名写手)

[求助] 我用AFM测出多层膜的表面粗糙度，这能间接反应界面的粗糙度情况？

可以在文章说间接反映了吗？
求助
真心地
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1楼 2012-03-10 00:20:42
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sea_wind

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与，应助指数 +1
柠檬树: 金币+2, ★有帮助, 谢谢 2012-04-09 23:43:06
不行吧，膜的厚度不均匀，你测最表面的粗糙度解释界面的粗糙度没有说服力。还是做截面扫描吧。
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15楼2012-04-06 13:43:12
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柠檬树

新虫 (著名写手)
悠然zx11: 温馨提示：本版块禁止文献&书籍求助贴！如需求助文献，请前往【文献求助】版块，谢谢 2012-03-10 09:11:34
或者谁有相关的文献给我看看啊
我想知道界面的粗糙度情况,
但是很难获得 ，想通过表面粗糙度反应界面？可以吗
赞一下 回复此楼
2楼2012-03-10 00:22:28
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zlxsk00

禁虫 (小有名气)
★ ★
感谢参与，应助指数 +1
wbcui(金币+2): 多谢帮助 2012-03-10 13:04:04
本帖内容被屏蔽
3楼2012-03-10 09:07:53
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柠檬树

新虫 (著名写手)
引用回帖:
楼: Originally posted by zlxsk00 at 2012-03-10 09:07:53:
不是很懂，但是感觉应该不行，因为如果你样品每层膜都尺寸均匀，那么你表面的粗糙度可以反映整体或者界面的粗糙度，但是你明白的，这是不可能的，不行的话就切个侧面做电镜看看吧，

如果界面有大的应力， 会对界面粗糙度有影响吗？ 有文献引用也可以
电镜就不做了   估计也就两三个原子层 上   看不出的
也太麻烦了
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4楼2012-03-10 10:09:05
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