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tanex(金币+5, 基金HEPI+1): 2012-01-16 12:14:39
考虑测试成本和版图成本的低功耗BIST的研究
负责人：周彬 参与人：周彬, 孙宇, 祝名, 孟祥斌, 彭博
金额：22万 申请时间：2011 学科代码：测试与诊断技术(F020401) 项目批准号：61100031
申请单位：哈尔滨工业大学 研究类型：应用基础研究
关键词：内建自测试（BIST）；扭换计数器（TRC）；测试数据；测试时间；测试功耗
摘要：不断增加的测试成本（测试时间和测试数据）和测试功耗给芯片的测试问题带来了巨大挑战。本项目提出一种新颖的2-bit TRC向量产生器结构，并在考虑测试成本和版图成本的条件下，对基于2-bit TRC BIST的功耗进行优化研究。具体包括：通过分析传统TRC序列的特性，对由多个2-bit TRC构成的向量产生器所产生序列的特性进行研究，以便为硬件和软件设计奠定基础；采用数据抽象的方法对芯片版图信息进行提取，研究在高层次建立计算版图成本的方法，并在版图成本限制的条件下对输入单元排序分段算法研究；从分析测试集的相容特性入手，对基于2-bit TRC的测试数据压缩算法进行研究；采用序列分段思想，对基于2-bit TRC的低功耗BIST的冗余向量删除方案进行研究。通过本项目的研究，拟将得到在测试成本、测试功耗以及版图成本方面具有较大优势的BIST方案，对推动BIST实用化具有较好的实际意义。 |
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