| 查看: 391 | 回复: 1 | ||||||||
| 本帖产生 1 个 基金HEPI ，点击这里进行查看 | ||||||||
[求助]
61100031/F020401摘要求助
|
||||||||
谢谢，小木虫和虫友。 |
回复此楼» 猜你喜欢
一志愿北交大材料工程总分358求调剂
已经有6人回复
-
312求调剂
已经有7人回复
-
材料334求调剂
已经有19人回复
-
生物与医药273求调剂
已经有6人回复
-
301求调剂
已经有10人回复
-
专硕0854初试考材科基，求调剂
已经有5人回复
-
0703化学
已经有15人回复
-
0703调剂，一志愿天津大学319分
已经有9人回复
-
085600材料与化工301分求调剂院校
已经有10人回复
-
求调剂
已经有8人回复
tjcdp
荣誉版主 (知名作家)
- 基金HEPI: 621
- 应助: 155 (高中生)
- 贵宾: 1.694
- 金币: 46007.8
- 散金: 2101
- 红花: 37
- 沙发: 7
- 帖子: 8265
- 在线: 1807小时
- 虫号: 195921
- 注册: 2006-02-24
- 性别: GG
- 专业: 其他无机非金属材料
- 管辖: 无机非金属
【答案】应助回帖
tanex(金币+5, 基金HEPI+1): 2012-01-16 12:14:39
|
考虑测试成本和版图成本的低功耗BIST的研究 负责人：周彬 参与人：周彬, 孙宇, 祝名, 孟祥斌, 彭博 金额：22万 申请时间：2011 学科代码：测试与诊断技术(F020401) 项目批准号：61100031 申请单位：哈尔滨工业大学 研究类型：应用基础研究 关键词：内建自测试（BIST）；扭换计数器（TRC）；测试数据；测试时间；测试功耗 摘要：不断增加的测试成本（测试时间和测试数据）和测试功耗给芯片的测试问题带来了巨大挑战。本项目提出一种新颖的2-bit TRC向量产生器结构，并在考虑测试成本和版图成本的条件下，对基于2-bit TRC BIST的功耗进行优化研究。具体包括：通过分析传统TRC序列的特性，对由多个2-bit TRC构成的向量产生器所产生序列的特性进行研究，以便为硬件和软件设计奠定基础；采用数据抽象的方法对芯片版图信息进行提取，研究在高层次建立计算版图成本的方法，并在版图成本限制的条件下对输入单元排序分段算法研究；从分析测试集的相容特性入手，对基于2-bit TRC的测试数据压缩算法进行研究；采用序列分段思想，对基于2-bit TRC的低功耗BIST的冗余向量删除方案进行研究。通过本项目的研究，拟将得到在测试成本、测试功耗以及版图成本方面具有较大优势的BIST方案，对推动BIST实用化具有较好的实际意义。 |
2楼2012-01-16 09:24:16
