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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 200nm左右的粉末可以做TEM吗(补充)
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nierfu

铁杆木虫 (正式写手)

[交流] 200nm左右的粉末可以做TEM吗(补充)

合成的颗粒在SEM下观察大概有200nm左右，想做TEM考察是否有二次粒子团聚，请问这样的粒子可以直接做TEM吗？最制样有什么特殊要求没？

感谢各位的热心回答。
另外还有个问题。今天去照了高倍的SEM，发现粒子原来是八面体去掉大半顶角的那种规则形状。因为粘在导电胶的粒子不是那种完全平铺的，所以只能估算厚度和边长。所以想请教各位有什么好办法能让这种粒子完全平铺或站立，以便更精确测量粒子的厚度及边长呢？

[ Last edited by nierfu on 2012-1-17 at 18:56 ]
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1楼 2012-01-15 16:26:40
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jonathonswq

木虫 (正式写手)
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖
调整样品浓度，在样品分散性比较好的话观察形貌应该问题不大，另外，看你的样品是什么材料的，高分子材料的话可以适当染色，染色后效果更佳。
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16楼2012-01-17 15:33:50
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xiejf

专家顾问 (文学泰斗)
★
nierfu(金币+1):谢谢参与
没问题，可以得到比较好的结果
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2楼2012-01-15 16:28:06
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Limestonest

新虫 (初入文坛)
★
nierfu(金币+1):谢谢参与
基本凑合，看边缘应该还行，用高电压（300KV以上）效果会更好。
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3楼2012-01-15 19:24:46
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dasbrot

木虫 (小有名气)
★
nierfu(金币+1):谢谢参与
应该没问题 如果是片的还好些 要是particles的话中间不一定能看到 找加速电压大点的镜子做吧
赞一下(1人) 回复此楼
4楼2012-01-15 22:22:00
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