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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 测试表征 » PL谱和透射吸收谱表征材料禁带宽度的时候，误差多大？
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MANOWAR

金虫 (正式写手)

[交流] PL谱和透射吸收谱表征材料禁带宽度的时候，误差多大？ 已有7人参与

我感觉这两种测试手段的结果误差不小，大家有没有相关的经验？误差的原因有人分析过吗？
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1楼 2011-12-18 11:40:40
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feiepeng

金虫 (小有名气)
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖
一看你的结果就知道是测薄膜，只有搞薄膜的才会两个都能测。
一般来说确实有误差，从我们多年的经验来说，PL光谱测量的数据更接近公认的数据，而采用透射—吸收光谱测量的数据一般都要低于PL所测的数据，这时因为采用透射-吸收光谱计算出的禁带宽度是在理想状态下的数据，因此直接测出的数据要加一个修正才可以使用
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roc
5楼2011-12-19 17:30:22
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lqingh506

铁杆木虫 (知名作家)
★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖
PL谱不是荧光么？能测禁带宽么
赞一下(1人) 回复此楼
2楼2011-12-18 15:25:44
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Giji521

银虫 (正式写手)
★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包，谢谢回帖
lijunjie84(金币+1): 谢谢回帖交流 2011-12-19 15:06:14
1.你的材料没有掺杂什么东西吧，还有你的材料的状态是什么。块体的还是粉末状的，这些都有关系的。
2.你制备出的材料是否为均一相，就算是制备出的为均一相，但是也可能存在点缺陷导致禁带宽度降低，需要做PL光谱进行进一步验证
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3楼2011-12-18 20:40:24
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MANOWAR

金虫 (正式写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by Giji521 at 2011-12-18 20:40:24:
1.你的材料没有掺杂什么东西吧，还有你的材料的状态是什么。块体的还是粉末状的，这些都有关系的。
2.你制备出的材料是否为均一相，就算是制备出的为均一相，但是也可能存在点缺陷导致禁带宽度降低，需要做PL光谱 ...

你好，材料是mocvd外延生长的薄膜晶体材料，理论上是不掺杂的，但是实际上肯定会有些污染，而且由于是异质外延，晶格常数与热膨胀系数等不匹配，肯定也会存在一些缺陷。我也是看文献的时候看到有人这么说，但是作者说的只有PL和投射吸收谱测试有差异，而且他认为是PL的问题，因为我对光学表征不怎么熟悉，所以想了解一下，平时大家做的时候是否确实如此？更想知道是什么原因导致的？
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4楼2011-12-19 11:38:53
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