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清风扑面

银虫 (小有名气)

[求助] 求助半导体材料测试中关于光电流-时间测试分析的经典文章

最近在所研究半导体材料(高阻半绝缘)电学性能测试过程中出现了一些异常现象,比如不同电压下暗电流随时间变化规律不同,很想对电流-时间变化机制有一个深入了解,如电压变化后材料内部的载流子产生-俘获-去俘获机制发生了哪些变化?如何从I-T曲线上进行分析?都有哪些辅助的分析表征方法等,但在网上没有搜索到合适的文献给予解释,不知哪位大侠能给出相关的经典文献?最好是能将I-T曲线与材料中的缺陷结合在一起的。
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原梦

金虫 (正式写手)

来学习的
2楼2013-11-05 17:26:03
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