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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料物理 » Si-SiC的含量分析
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yuenan314

铁杆木虫 (正式写手)

[求助] Si-SiC的含量分析

在一个Si-SiC的混合成分体中，我如何能够知道其中含多少Si？多少SiC？（按质量百分比）。望高手指点！
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自由之精神乃我后半生之追求
1楼 2011-10-27 09:56:36
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kevin123581

金虫 (正式写手)
送红花一朵
引用回帖:
4楼: Originally posted by yuenan314 at 2011-10-27 13:52:44
我知道XPS对C是比较敏感的。这样通过拟合得到的原子总数可靠吗？另外SiC中的四价硅和单质的零价硅在XPS中应该是不同的。XPS本来就是做价态拟合得嘛。我可不可以直接就以不同的Si来判断其中的Si跟SiC含量？...

我也想请教下，楼主成功了么？ 我也想测量单质和Sio2的相对含量，而且还是深度方向的。 也正在考虑用xps，谢谢
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15楼2015-05-13 14:28:05
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不是流川枫

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

★ ★
yuenan314(金币+4): 谢谢参与！ 2011-10-27 13:38:14
wbcui(金币+2): 鼓励一下，多谢参与！ 2011-10-27 20:52:36
可以测量体系中C含量。如果你是做的包覆，可以考虑XPS

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
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2楼2011-10-27 11:56:39
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dwysd

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★
yuenan314(金币+6): 谢谢参与！ 2011-10-27 13:38:22
wbcui(金币+2): 鼓励一下，多谢参与！ 2011-10-27 20:52:44
如果是块体材料，或者薄膜材料，可以做XPS测试Si及C的高分辨特征峰，然后进行拟合，根据拟合结果，可以计算出Si中单质及SiC的的原子比例，然后自己换算成质量比就可以了。
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3楼2011-10-27 12:06:10
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yuenan314

铁杆木虫 (正式写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by dwysd at 2011-10-27 12:06:10:
如果是块体材料，或者薄膜材料，可以做XPS测试Si及C的高分辨特征峰，然后进行拟合，根据拟合结果，可以计算出Si中单质及SiC的的原子比例，然后自己换算成质量比就可以了。

我知道XPS对C是比较敏感的。这样通过拟合得到的原子总数可靠吗？另外SiC中的四价硅和单质的零价硅在XPS中应该是不同的。XPS本来就是做价态拟合得嘛。我可不可以直接就以不同的Si来判断其中的Si跟SiC含量？
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kevin123581
自由之精神乃我后半生之追求
4楼2011-10-27 13:52:44
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