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zp198803

金虫 (小有名气)

[求助] 石英晶体微天平QCM的问题

请问石英晶体微天平测量膜表面质量变化时对膜的形状有要求么,比如说微孔性的膜表面(如聚四氟乙烯等)可以用这个方法来测量其质量的变化么???
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zp198803

金虫 (小有名气)

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2楼: Originally posted by sdtian at 2011-10-24 15:14:52:
可以的,质量变化只要够明显就行。还有一个前提是你能把这个薄膜做到QCM芯片的表面上去,一般QCM是硅片或金片。

但是我在这片文献中看到说由于聚四氟乙烯的多孔性不能使用QCM  AFM等仪器来表征(Biomacromolecules, Vol. 8, No. 7, 2007  Poly(styrenesulfonate)/Poly(allylamine) Multilayers:  A Route To Favor Endothelial Cell Growth on Expanded Poly(tetrafluoroethylene) Vascular Grafts),不知道作何解释》???
3楼2011-10-24 16:12:50
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zp198803

金虫 (小有名气)

顶下吧
4楼2011-10-25 10:24:40
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zp198803

金虫 (小有名气)

引用回帖:
5楼: Originally posted by sdtian at 2011-10-25 11:11:47:
如果只是多孔性,QCM当然是测不出来的,QCM测量的是质量变化,AFM想看到多孔膜上的孔是很困难的,nm级的可能还可以,再小就不行了,可能用HRTEM可以看得到。举个例子,QCM最适合的测量模式:有一个聚合物薄膜,干 ...

我现在是在多孔聚四氟乙烯(孔隙是肉眼不可见的)表面进行改性,是做层层自组装(是纳米级的),一般很多平面材料都可以用QCM来测试改性前后质量变化,现在我的材料具有多孔性,就是不知道QCM还能不能用来测试聚四氟乙烯表面的质量变化,麻烦多多指教!!
6楼2011-11-07 16:32:41
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