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sltmac

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yanjiao12(金币+40, 翻译EPI+1): 谢谢高手喔 2011-07-12 19:35:22
yanjiao12(金币+10): 好啊 2011-07-12 19:49:50
比如,通常认为表面缺陷的高度集中会增加D/A表面载流子的再复合以及降低器件的性能,但没有关于电子寿命与用来制备聚合物/ZnO器件的棒状结构性能关系的报道,除非通过瞬态吸收光谱能够显著地观察到在几毫秒内电荷在器件中缓慢再复合的半衰期。鉴于此,我们研究了ZnO纳米棒结构性能对含有MEH-PPV太阳能电池性能的影响。这样高质量的ZnO纳米棒是通过电沉积方法制备的,此ZnO纳米棒的长度(Ln)以及缺陷集中程度可以通过沉积时间(Td);电子寿命(Te)得到控制,其中电子寿命与MEH-PPV/ZnO器件中界面电荷的再复合有关,可以通过强度调制光电压谱(IMVS)观察到。结果表明,器件中的光电流以及电荷的再复合率取决于Ln而不是缺陷集中程度,电荷的再复合以及带内的缺陷对开路电压(Voc)有很大的影响,但Voc对缺陷集中程度也很敏感。
云淡风轻
3楼2011-07-12 17:14:01
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