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关于小角度XRD制样与背景峰关系的问题
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| 用X射线衍射仪测试SBA-15类样品（粉末），测量角度2θ=0.7~8°。在测试过程中发现0.7~0.9° 之间样品的背景峰可能会相差很大。本人推测可能是制样的问题，请教各位大侠制样、粉末粗细程度与背景峰之间的关系，也就是怎么样减少背景峰~~~ |
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