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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 测试表征 » 用XRD测试晶粒度大小的问题
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fang11kai

银虫 (正式写手)

[交流] 用XRD测试晶粒度大小的问题

有几个问题向和大家交流一下：
1：大家是测某一个面的晶粒度大小还是算平均晶粒大小呢？
2：为什么算某一个晶面晶粒大小时不要扣除仪器宽画曲线呢？
3：做仪器宽画曲线采用的样品怎么做啊？我这没有这个材料，怎么办呢？
谢谢大家的讨论！！！
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1楼 2011-06-20 09:24:24
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iangie

木虫 (著名写手)
★ ★
fang11kai(金币+1):谢谢参与
drg1984(金币+1): 予人玫瑰, 手留余香 2011-06-20 21:30:26
fang11kai(金币+2): 很详细，谢谢 2011-06-21 22:17:22
一般算平均
谁说不要?
用NIST SRM 660b 或者640 做仪器峰宽. 买不起也可以自己做退火Si粉代替...
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3楼2011-06-20 18:03:04
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fang11kai

银虫 (正式写手)
自己顶一个！！！
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2楼2011-06-20 17:06:34
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tangbohejin

木虫之王 (文学泰斗)
★ ★
fang11kai(金币+1):谢谢参与
drg1984(金币+1): 谢谢交流！ 2011-06-20 21:30:45
一般是以某一个面为计算。。。。。。。。
赞一下(2人) 回复此楼
4楼2011-06-20 18:33:26
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userhung

禁虫 (文学泰斗)
★
fang11kai(金币+1):谢谢参与
平均的哦
要扣除
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6楼2011-06-21 14:52:57
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