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谢乐公式计算粒径
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用谢乐公式通过半高宽法计算XRD粒径时，如果粒径大于100nm那么有多少可信度呢？如果我不关心晶粒具体多大，只想比较一系列处理后的晶粒变化，是否可以用谢乐公式计算呢？ 我的材料晶粒尺寸大概在1微米多，但是为什么用谢乐公式算出是几十个纳米呢？苦苦思索不得其果，还请高人指点啊  ~~~~ |
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【答案】应助回帖
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蓝色的鱼(金币+5): 非常感谢，您的回答很有帮助~~~ 2011-06-16 08:35:03
drg1984(金币+1): 这个问题很重要啊！ 2011-07-01 08:52:06
蓝色的鱼(金币+5): 非常感谢，您的回答很有帮助~~~ 2011-06-16 08:35:03
drg1984(金币+1): 这个问题很重要啊！ 2011-07-01 08:52:06
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这个公式从理论上来说是没有问题的，可以测量的范围很大。 但关键是仪器测FWHM的时候精度有多高呢？ 如果FWHM的测量精度是0.02°，那么你可以计算出100nm以下晶粒径的误差是多大，在100-200nm之间的误差又是多大。 测量的结果是可信的，但在不同的晶粒度尺寸范围内，误差大小不同。 表征的时候要小心一些，举一个例子如： 30±5nm；100±30nm；300±80nm。 |
2楼2011-06-14 08:59:47
3楼2011-06-16 08:37:02
4楼2011-06-17 09:30:24
5楼2011-06-30 22:05:48
6楼2011-07-01 10:14:55
Gilbertcao
铜虫 (正式写手)
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7楼2014-12-12 17:41:38