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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 纳米包覆结构表征
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beidihe

新虫 (初入文坛)

[求助] 纳米包覆结构表征

实验设计制备晶体外面包覆一层高分子橡胶物质。怎样证实制备出的粉末是晶体包裹上了一层高分子物质而不是两者混合一起，或者是晶体物质包裹在了高分子外呢？SEM观察单个粉末的粒径在100-300nm之间。XRD 计算单晶体的粒径在40-50nm左右。有没有什么方法适合分析这种包覆结构的？希望高手给予帮助。谢谢了。
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1楼2011-06-03 01:49:13
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小叶3061

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★
wandaohzl(金币+1): 鼓励交流 2011-06-03 09:52:51
beidihe(金币+1): 谢谢 2011-06-04 00:24:24
引用回帖:
Originally posted by beidihe at 2011-06-03 01:49:13:
实验设计制备晶体外面包覆一层高分子橡胶物质。怎样证实制备出的粉末是晶体包裹上了一层高分子物质而不是两者混合一起，或者是晶体物质包裹在了高分子外呢？SEM观察单个粉末的粒径在100-300nm之间。XRD 计算单晶体 ...

用TEM就行，根据衬读分析！
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2楼2011-06-03 09:04:11
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beidihe

新虫 (初入文坛)
谢谢了。这方法以前有人试过，但是说效果不好。背景噪音太大。我要区分的两种物质中分别含有N和F元素。若问一下，如果用x射线荧光光谱分析（XRF）的话可以找出F元素吗？
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3楼2011-06-04 00:24:08
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COXEM

捐助贵宾 (正式写手)

北京驰奔仪器有限公司- G.M &


引用回帖:
Originally posted by beidihe at 2011-06-04 00:24:08:
谢谢了。这方法以前有人试过，但是说效果不好。背景噪音太大。我要区分的两种物质中分别含有N和F元素。若问一下，如果用x射线荧光光谱分析（XRF）的话可以找出F元素吗？

这个应该用树脂镶样然后抛光，然后扫描电镜看颗粒剖面，这个需要上FE-SEM才可以在低加速电压下获得纳米空间内N和F的特征X射线信号，微区原子数量0.1%以上的可以用EDS, 含量低于0.1%必须用WDS来分析。

X射线荧光光谱（XRF）应该不是微区分析用途，常规的元素检测原子序数范围Na以上，现在有将XRF功能集成在SEM中，但用来激发样品中特征x射线的X光束相对电子束太粗，亚微米尺度不适用。
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4楼2011-06-26 01:25:59
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誓言海

银虫 (小有名气)
我觉着应该采用X射线光电子能谱分析其表面元素种类和价态的变化
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没有好与不好只有搭与不搭
5楼2013-03-11 23:31:57
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