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永远爱家的YY

金虫 (小有名气)

[交流] 【求助】XPS能定量测涂层中Ti、C、N、O的成分吗?已有5人参与

XPS能定量测涂层中Ti、C、N、O的成分吗?结果精确吗?
  能直接读取结果还是要根据谱线再分析计算?

[ Last edited by 永远爱家的YY on 2011-4-12 at 19:14 ]
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薄膜器件的制备与表征 硬质合金涂层

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没有人能随随便便成功
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wtw320

至尊木虫 (著名写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
肯定能定量分析

会给出一个各种元素的相对的一个含量,不是很准确,只能是大概的!

自己分析应该也可以,这个我没做过~~
路漫漫其修远兮,吾将上下东西南北中发白,所到之处无不披靡而求索!
2楼2011-04-12 20:39:36
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永远爱家的YY

金虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by wtw320 at 2011-04-12 20:39:36:
肯定能定量分析

会给出一个各种元素的相对的一个含量,不是很准确,只能是大概的!

自己分析应该也可以,这个我没做过~~

哦~~谢谢!
你知道这个跟XRF、AES测出来的结果 哪个精确度更好些吗?
没有人能随随便便成功
3楼2011-04-12 22:24:57
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wtw320

至尊木虫 (著名写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by 永远爱家的YY at 2011-04-12 22:24:57:
哦~~谢谢!
你知道这个跟XRF、AES测出来的结果 哪个精确度更好些吗?

不知道,这两个我都没做过!
路漫漫其修远兮,吾将上下东西南北中发白,所到之处无不披靡而求索!
4楼2011-04-13 11:00:02
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yin18

银虫 (小有名气)

XPS,AES


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
XPS,AES均是表面成分分析常用手段,适用除H He外的元素分析。均是物质波轰击材料产生的电子能谱。一般都会同时产生俄歇电子和X光电子,因为激发的俄歇电子和光电子是竞争关系,所以XPS和AES也是相对的关系,常结合起来分析。XPS适用较重元素,AES较轻元素。但是两者测试精度实在有限,0.1%就很不错了。据说XPS准确度高于AES。

PS:  XRF是什么??
厚积薄发
5楼2011-04-13 11:51:50
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apersob

金虫 (正式写手)

引用回帖:
Originally posted by yin18 at 2011-04-13 11:51:50:
XPS,AES均是表面成分分析常用手段,适用除H He外的元素分析。均是物质波轰击材料产生的电子能谱。一般都会同时产生俄歇电子和X光电子,因为激发的俄歇电子和光电子是竞争关系,所以XPS和AES也是相对的关系,常结合 ...

X射线荧光分析
6楼2011-04-13 12:39:22
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五月神的存在

金虫 (小有名气)


小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
可以呢 同时能分析价态
7楼2015-06-02 22:46:34
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