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peihe2010

金虫 (正式写手)


[交流] 【摘要编号】11004148/A040105

求助摘要的编号:
11004148/A040105
项目名称:
Si基无氧铁电薄膜及其异质结的结构、缺陷与铁电特性研究
项目类型:
青年基金

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raimi

铁杆木虫 (著名写手)


peihe2010(金币+4, 基金HEPI+1): 2011-01-13 08:45:17
项目编号 11004148
项目名称 Si基无氧铁电薄膜及其异质结的结构、缺陷与铁电特性研究  
项目类型 青年科学基金项目   
申报学科1 薄膜和纳米结构的形成(A040105)  
申报学科2 薄膜和纳米结构的形成(E010601)  
研究性质 应用基础研究   
资助金额 22.00万元
开始日期 2011年1月1日  
完成日期 2013年12月31日   
项目摘要 铁电场效应管(FeFET)具有结构简单、读写速度快、写操作耐久性高、功耗低等优点。采用高介电绝缘层置于氧化物铁电膜和Si之间,虽可阻碍他们之间元素的扩散,却降低了器件的数据保持性能。为了克服该弊端,本课题拟采用II-VI族无氧铁电AxCd1-xS (A=Zn,Mn)薄膜替代高介电绝缘层来制备FeFET,因为AxCd1-xS 与Si基底之间有很好的稳定性。本课题将优化AxCd1-xS薄膜制备过程中的工艺参数,在Si基底上制备出高质量的无氧铁电薄膜和AxCd1-xS/SrBi2Ta2O9异质结,精细测定AxCd1-xS块体和薄膜的晶体结构,研究AxCd1-xS的晶体结构的变化对其铁电性能的影响规律;用正电子湮灭等方法研究AxCd1-xS中铁电性能受缺陷影响的机制;阐述II-VI族无氧铁电薄膜的铁电性能变化的控制规律和机理。最终获得适用于FeFET器件的高性能的AxCd1-xS薄膜及其异质结。  
获资助单位 天津大学(项目负责人)
2楼2011-01-13 08:17:15
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