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AFM是在针尖距离样品于纳米范围内进行测量的，在针尖与样品表面的至近距离形成一个局域化的“场”，这一局域化场有利于人们了解材料表面的纳米、分子、和原子尺度的形貌及探测原子、分子间的力和其物理与化学性质[2]。由于扫描探针显微技术不但具有纳米级分辨率，而且制样简单，可在溶液中原位进行表面成像和力学、物理、化学等性能的测量，并优于其他仪器从而得到广泛的应用[3]。AFM可通过力-距离曲线来研究物质与物质表面的相互作用，表征材料表面的许多性能，并在此基础上进一步展开性能研究[4]。图1为pH值为7时MgCl2浓度在10-4mol/L到10-2mol/L范围内的作用力随作用距离的变化关系。 长程作用力的大小与ZrO2纳米晶涂层的表面电势和双电层厚度密切相关。当MgCl2浓度为10-4mol/L时，从120nm处开始表现出长程排斥力。当MgCl2浓度为10-3mol/L时，长程排斥力的作用范围开始于70nm。当MgCl2浓度为10-2mol/L时，长程排斥力的作用范围开始于25nm。随着MgCl2浓度的升高，ZrO2纳米晶涂层表面的双电层受到压缩，其排斥力的作用范围缩小，排斥力的强度呈下降趋势。表面相互作用力的大小与其双电层厚度密切相关。双电层的厚度k-1的计算公式为： |
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2楼2011-01-18 00:29:49
wuming1987(金币+15, 翻译EPI+1): 谢谢 2011-01-19 22:04:26
| AFM is in nanoelectronics distance specimen in nanometer range measuring, in nanoelectronics and sample surface to close formation of a local area of the "field", a local area of field helps people understand the nanometer material surface, molecules, and atomic scale, and detect the morphology of the force between the atoms, molecules and its physical and chemical properties [2]. Because scanning probe microscopy techniques not only has nanoscale resolution, and sample preparation simple, can be in solution zhongyuan bits surface imaging and mechanics, physical and chemical properties of measurement, and it is better than other instruments which are widely used in [3]. AFM through force-distance curve to study material and substance surface interaction, and characterization of many of the properties of the material surface, and on this basis to further performance study [4]. Figure 1 ? for pH value |
3楼2011-01-19 16:59:27
