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【求助】关于Squid测做在硅片上的ZnO：Ni薄膜磁性的三个问题
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我的ZnO：Ni薄膜做在硅片上，现在拿到外地去做Squid的测量。但是刚测了一个样品就反应说数据不太好。 因为是第一次测，搞不清楚是不是参数选的不对， 现有以下三个问题请教： 1.通过查文献我建议的参数是磁场强度1000 Oe下测变温的M-T曲线，和常温下测M-H曲线。不知道该磁场是否合适，做过类似测试的朋友们能否给个建议。 2.硅片的影响是否很大，应该用oringe在作图时如何扣除衬底的影响呢？ 3.M的单位为emu,但是在作图时需要纵轴是emu/g，也就是要除以质量，可是我的样品是做在Si衬底上的薄膜，怎么测质量呢？希望高手们多多赐教！ |
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