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【请教】TEM的电子衍射可以鉴定物相么?
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小丁丁7378
金虫
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虫号: 647873
[交流]
【请教】TEM的电子衍射可以鉴定物相么?
我有一批粉末样品,利用磁控溅射在颗粒表面镀了一层金属铁,但是分布不均匀,而且可能也发生了一定程度的氧化。我利用XRD检测过,可能由于金属铁的含量低于其检测限(1wt%),所以没有检测出金属铁相对存在。另外,我也进行过XPS实验,但是由于金属铁比较容易氧化,而XPS的穿透深度限制于10nm内,所以也没有检测出金属铁相出来。我听有人说利用TEM的电子衍射功能可以鉴定出金属铁相,但是我对该功能不了解,想请各位大师指点一下,TEM的电子衍射不知道可以鉴定出我样品中的金属铁相么?或者还有什么更好的方法么?非常感谢!
[
Last edited by nash603 on 2011-3-23 at 21:23
]
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2010-12-22 16:50:10
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帝夫(金币+2):谢谢回帖交流 2010-12-22 19:52:36
小丁丁7378(金币+4):多谢指导~~ 2010-12-23 09:59:54
引用回帖:
Originally posted by
小丁丁7378
at 2010-12-22 16:50:10:
我有一批粉末样品,利用磁控溅射在颗粒表面镀了一层金属铁,但是分布不均匀,而且可能也发生了一定程度的氧化。我利用XRD检测过,可能由于金属铁的含量低于其检测限(1wt%),所以没有检测出金属铁相对存在。另外 ...
刚回完短消息,顺路回个帖,呵呵。
TEM可以检测物相,前提是得到电子衍射图谱。
粉末样品的TEM制样恐怕得请教高手。
另外,即使制样成功,如果你的系统过于复杂,想从电子衍射图谱里面找出你想要的Fe的衍射斑恐怕也比较困难。
最后,问个问题:你一定要确定是“相”么?如果只是检测Fe元素的存在,EDS就可以了(通常SEM和TEM都配备)。
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2楼
2010-12-22 19:02:52
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小木虫(金币
+0.5
):给个红包,谢谢回帖
XPS的穿透深度可以不止10nm,利用溅射可以达到几十纳米
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3楼
2011-05-16 14:21:52
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