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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 【求助】消光谱（extinction spectrum）的测量
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暗暗地笑

金虫 (正式写手)

[交流] 【求助】消光谱（extinction spectrum）的测量

在半导体薄膜表面沉积一层金属纳米颗粒，想测量样品的消光谱（extinction spectrum）的，请教一下如何测量，谢谢了！！！
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1楼 2010-11-27 14:57:23
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wangying3889

银虫 (正式写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
请问楼主现在明白了吗？能否告知一下啊？非常感谢~~~~
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7楼2012-12-25 21:54:53
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janeshen714

铁杆木虫 (著名写手)
引用回帖:
Originally posted by 暗暗地笑 at 2010-11-27 14:57:23:
在半导体薄膜表面沉积一层金属纳米颗粒，想测量样品的消光谱（extinction spectrum）的，请教一下如何测量，谢谢了！！！

什么是消光谱啊，你说的是椭偏仪吧
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2楼2010-11-27 15:27:48
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strangersu

金虫 (正式写手)
暗暗地笑(金币+1): 2010-11-27 16:22:10
用固体样品架测量样品和未沉积的样品的紫外-可见光谱应该就可以了吧。
用未沉积的做空白校准，然后测。
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3楼2010-11-27 15:29:54
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暗暗地笑

金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by strangersu at 2010-11-27 15:29:54:
用固体样品架测量样品和未沉积的样品的紫外-可见光谱应该就可以了吧。
用未沉积的做空白校准，然后测。

需要用积分球吗？我们用的是岛津UV2450，有直接测量的选项还是需要测量吸收和散射的叠加吗？
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4楼2010-11-27 16:23:48
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