| 查看: 2795 | 回复: 6 | ||||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | ||||
[交流]
【求助】急！！XPS(X射线光电子能谱分析)怎么制样？
|
||||
|
XPS(X射线光电子能谱分析)怎么制样？是不是能测元素，如P，N，S ，Cr等。 若想测出这些元素有没有其他测试手段？ 我的样是在纳米球表面包裹了一层聚合物，我测了EDS，P和Cr测不出来 |
回复此楼» 收录本帖的淘帖专辑推荐
 XPS专区 |
» 猜你喜欢
考研求调剂
已经有4人回复
-
085601专硕，总分342求调剂，地区不限
已经有4人回复
-
085601材料工程专硕求调剂
已经有5人回复
-
一志愿天津大学化学工艺专业（081702）315分求调剂
已经有6人回复
-
能源材料化学课题组招收硕士研究生8-10名
已经有6人回复
-
296求调剂
已经有5人回复
-
0703化学调剂 ，六级已过，有科研经历
已经有8人回复
-
268求调剂
已经有8人回复
-
材料，纺织，生物（0856、0710），化学招生啦
已经有7人回复
-
301求调剂
已经有5人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- Fe的XPS图谱，出现未知峰，急求大家帮助
已经有15人回复
- 购买的SS-DNA好像有问题，怎么办？
已经有27人回复
- 纤维测XRD和XPS如何制样
已经有15人回复
- 【求助】石墨烯的表征制样请教 XPS XRD 拉曼
已经有16人回复
- 【求助】急急！！！哪位懂xps，帮我看一下我的数据吧。谢谢
已经有5人回复
» 抢金币啦！回帖就可以得到:
-
温州大学吕晶晶课题组2026年招生
+1/86
-
愿遇见你，遇见不止擦肩而过的缘分
+1/77
-
坐标广州，男征女，双向奔赴
+1/67
-
哈工大郑州高等研究院刘绍琴与查正宝教授课题组诚招合成生物学背景相关的优秀人才加盟
+1/45
-
南京理工大学优青团队招聘副教授、博士后、博士、硕士生（化学、催化方向）
+1/38
-
湘潭大学“过程强化与绿色化工”创新团队补招2026年秋入学博士生
+1/35
-
招硕士调剂生
+2/26
-
【武汉高校】【新能源材料与器件课题组】 招收优秀硕士调剂生！！！
+5/20
-
海南师范大学孙元元老师招生博士，名额1~2个，2026年9月份入学（光电/光热催化方向）
+1/18
-
北京航空航天大学招生微流控与智能打印技术方向博士研究生
+1/18
-
福建师范大学化学与材料学院杜克钊团队博士/硕士招生
+1/14
-
教育部长江学者和创新团队发展计划”入选团队招收 材料，化学与化工博士研究生
+1/7
-
26年博士招生
+1/6
-
上海第二工业大学-朱大海课题组招生（过线就能调剂）
+1/5
-
双一流天津工业大学电信学院李鸿强教授招收2026年申请审核制博士3名
+1/5
-
中国科学院过程工程研究所助理研究员（正式职工）和博士后招聘启事
+1/5
-
东北林业大学（211，双一流）宋老师课题组招收高分子、化学、复合材料等方向研究生
+1/4
-
药学专硕一志愿苏大本科苏大寻求B区高校调剂名额
+1/1
-
中国科学院地球化学研究所招科研助理
+1/1
-
急！招收北京工业大学与国家纳米科学中心联合培养博士1名，物理、材料、化学背景
+1/1
4楼2010-12-01 10:43:22
Eve-pan(金币+5):谢谢！ 2010-11-25 20:53:05
|
XPS只能测样品深度达 50-70 Angstroms。不知LZ你的包裹层有多厚，是否可测到里面。 XPS,EDS 一般都是表面分析的。若你想测是否含某些元素，我觉得可用元素分析吧， 原子吸收类的应该也可以 X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is used to determine quantitative atomic composition and chemistry. It is a surface analysis technique with a sampling volume that extends from the surface to a depth of approximately 50-70 Angstroms. Alternatively, XPS can be utilized for sputter depth profiling to characterize thin films by quantifying matrix-level elements as a function of depth. XPS is an elemental analysis technique that is unique in providing chemical state information of the detected elements, such as distinguishing between sulfate and sulfide forms of the element sulfur. The process works by irradiating a sample with monochromatic x-rays, resulting in the emission of photoelectrons whose energies are characteristic of the elements within the sampling volume. |
2楼2010-11-25 14:16:25
3楼2010-11-25 15:03:54
6楼2013-02-27 15:42:31
