[交流] 【求助】跪请教高手，关于xrd的几个问题，很急呀

我是菜鸟新人，才注册不久，金币也不多，希望各位不要介意，有几个关于xrd的问题想请教各位，希望高手不吝赐教，在此万分感激，下面是问题
1.一个晶相可能对应多个衍射峰，利用谢乐公式计算晶粒大小时，是只需要计算该晶相所对应的最强峰，还是要把能够对上的每个衍射峰或者主要的几个衍射峰都要计算，然后平均？
2.对xrd图谱的半定量分析得到的数据有意义吗？能说明什么呢？
举例说明：若两个试样配方相同，原料主要是镁砂，只是某一种添加剂不同，添加剂的含量也相同，分别进行半定量分析，得到1号中MgO含量为90，尖晶石含量为10；2号中MgO含量为80，尖晶石含量为20，能否说明1号试样中MgO含量多于2号试样？
若不能说明，怎样横向比较两个试样中同一晶相含量的多少呢？
3。怎样计算晶格畸变？也就是点阵畸变？
跪求答案，很急啊，再次感谢各位~

[ Last edited by VivianJ on 2010-11-19 at 17:02 ]

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1楼 2010-11-17 15:53:40

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VivianJ

新虫 (小有名气)

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那应该怎么算呢？

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6楼2010-11-19 14:34:04

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VivianJ

新虫 (小有名气)

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会的人都去哪里了？我在线等啊

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2楼2010-11-17 15:59:17

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njutzl

至尊木虫 (正式写手)

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★
VivianJ(金币+2): 2010-11-18 20:21:28
418783132(金币+1):鼓励交流 2010-11-19 19:25:21

A.计算晶粒度时应注意：
1.应选取多条低角度的x射线（2θ<50°）进行计算，然后求的平均。这是因为高角度区Kα1与Kα2双线分裂开，这会影响测量线宽化值
2.当d很小只有几nm时，表面张力增大，晶粒内部压力增大，会产生很大的第二类畸变，这也会导致X射线的宽化，因此，在精确计算晶粒度时，应从测量的半高宽中扣除二类畸变引起的宽化，但很多情况下，都没有扣除……
来自张立德主编纳米材料与纳米结构第148页

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3楼2010-11-17 18:18:41

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