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VivianJ

新虫 (小有名气)


[交流] 【求助】跪请教高手,关于xrd的几个问题,很急呀

我是菜鸟新人,才注册不久,金币也不多,希望各位不要介意,有几个关于xrd的问题想请教各位,希望高手不吝赐教,在此万分感激,下面是问题
1.一个晶相可能对应多个衍射峰,利用谢乐公式计算晶粒大小时,是只需要计算该晶相所对应的最强峰,还是要把能够对上的每个衍射峰或者主要的几个衍射峰都要计算,然后平均?
2.对xrd图谱的半定量分析得到的数据有意义吗?能说明什么呢?
  举例说明:若两个试样配方相同,原料主要是镁砂,只是某一种添加剂不同,添加剂的含量也相同,分别进行半定量分析,得到1号中MgO含量为90,尖晶石含量为10;2号中MgO含量为80,尖晶石含量为20,能否说明1号试样中MgO含量多于2号试样?
若不能说明,怎样横向比较两个试样中同一晶相含量的多少呢?
3。怎样计算晶格畸变?也就是点阵畸变?
跪求答案,很急啊,再次感谢各位~

[ Last edited by VivianJ on 2010-11-19 at 17:02 ]
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VivianJ

新虫 (小有名气)


那应该怎么算呢?
6楼2010-11-19 14:34:04
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VivianJ

新虫 (小有名气)


会的人都去哪里了?我在线等啊
2楼2010-11-17 15:59:17
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njutzl

至尊木虫 (正式写手)



VivianJ(金币+2): 2010-11-18 20:21:28
418783132(金币+1):鼓励交流 2010-11-19 19:25:21
A.计算晶粒度时应注意:
1.应选取多条低角度的x射线(2θ<50°)进行计算,然后求的平均。这是因为高角度区Kα1与Kα2双线分裂开,这会影响测量线宽化值
2.当d很小只有几nm时,表面张力增大,晶粒内部压力增大,会产生很大的第二类畸变,这也会导致X射线的宽化,因此,在精确计算晶粒度时,应从测量的半高宽中扣除二类畸变引起的宽化,但很多情况下,都没有扣除……
来自张立德主编纳米材料与纳米结构第148页
3楼2010-11-17 18:18:41
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VivianJ

新虫 (小有名气)


谢谢,第一个懂了
4楼2010-11-17 19:20:30
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