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【讨论】X射线计算晶粒大小
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不知道各位虫虫有没有遇到晶粒大小测定的问题。我用XRD做了尝试，将数据导入Jade中，然后用平滑，去背底，利用峰面积计算的小按钮计算我选中的峰，就会出来半高宽数据。利用这个半高宽数据和谢乐公式就能计算晶粒大小了。 虽然我没有扣除仪器的半高宽，但是我是要做晶粒大小的对比实验，所以误差可以抵消。但是有一个问题很棘手，我做的几个样品是在不同温度下热压的，多多少少会有残余应力引起衍射峰的宽化，而且这个误差会因为样品制备温度不同而不同，在几个样品中应该不是一样的，所以无法将这个误差抵消。 想问问前辈们，是如何将残余应力和晶粒大小这两种因素区分开来计算的。 我查到一个软件是Line Profile Analysis，据说提供了来自于样品微晶尺寸或微应变及仪器影响造成的分析线变宽的分离方式。 不知道你们是否听说过，或者有没有虫友正好有这个的。拜谢啊 |
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