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qwerasdf2783

金虫 (著名写手)

[交流] 【求助】测量样品在半导体电极上的氧化电位

想用电化学方法分析半导体价带是否可以直接氧化底物,因此打算测量底物分子在该半导体电极上(ITO玻璃镀半导体膜)的氧化电位。这种方法是否合理?是否直接用循环伏安的方法(只看从低电位到高电位)就可以。
另外听说半导体电极由于充电会产生电流,这会对测量产生什么影响,如果影响,可以用什么方法避免。
本人菜鸟一只,望指教。

[ Last edited by qwerasdf2783 on 2010-9-17 at 15:12 ]
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qwerasdf2783

金虫 (著名写手)

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2楼2010-09-17 15:25:04
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