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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 材料测试 » 【求助】关于XRD
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dcly

金虫 (正式写手)

[交流] 【求助】关于XRD

对于某种材料，何时应该用小角XRD何时用广角XRD进行测试？希望懂XRD解析的虫虫能详细的解析。十分感谢！
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1楼 2010-09-13 14:52:17
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xianyunshui

银虫 (正式写手)
★
enquan123(金币+1):鼓励交流！ 2010-09-13 16:46:31
dcly(金币+5):能否在详细点解说呢，谢谢！ 2010-09-14 08:44:47
简单说:广角XRD,如常说的粉末衍射,可以用来检测样品的物相,含量(多相混合的话), 计算晶胞参数,应力,估算晶粒大小等.
小角XRD可以用来检测多孔材料孔的有序性,层状材料的层间距变化等
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2楼2010-09-13 16:24:49
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demonyuu

木虫 (著名写手)
★
418783132(金币+1):鼓励交流 2010-09-16 19:32:14
我觉得这就要看你做的材料在什么位置有衍射峰了。做某些分子筛的话会用到小角XRD表征。
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在每一个没有你在的日子，内心不能安宁。这么久了，怎么忍得？
3楼2010-09-16 10:29:01
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dcly

金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by demonyuu at 2010-09-16 10:29:01:
我觉得这就要看你做的材料在什么位置有衍射峰了。做某些分子筛的话会用到小角XRD表征。

我的意思是：小角和广角分别是用来表征什么的？
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4楼2010-09-16 11:29:00
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zhangquan8385

荣誉版主 (文坛精英)

优秀版主
薄膜用小角,
粉体,块材用高角
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5楼2010-09-16 11:55:29
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horseboy05

银虫 (初入文坛)

XRD

★
418783132(金币+1):鼓励交流 2010-09-16 19:32:26
小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,X射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等，也得到了重视。
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6楼2010-09-16 17:57:44
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dcly

金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by zhangquan8385 at 2010-09-16 11:55:29:
薄膜用小角,
粉体,块材用高角

这个不一定吧！粉末的也用小角啊！
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7楼2010-09-18 10:37:53
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dcly

金虫 (正式写手)
引用回帖:
Originally posted by horseboy05 at 2010-09-16 17:57:44:
小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,X射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等，也得到了重视。

我这里提到的不是散射是x-射线衍射！不过还是谢谢你的回帖！
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8楼2010-09-18 10:38:49
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zhangquan8385

荣誉版主 (文坛精英)

优秀版主
★ ★
enquan123(金币+2):鼓励交流！ 2010-09-18 18:54:06
引用回帖:
Originally posted by dcly at 2010-09-18 10:37:53:


这个不一定吧！粉末的也用小角啊！

个人认为:这个跟制样有关,粉末如果只有薄薄的一层就相当于膜了,不过这种情况比较少.从x射线扫描的路径看出,如果是薄膜,当衍射角度大时,x射线经过样品的路程就短,那么收集的信号就会很弱甚至不是我们样品的衍射峰.但如果是粉体或者块材就不存在这个问题,相比来说,高角的时候更能说明问题.
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9楼2010-09-18 14:22:49
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