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[交流]
【讨论】从Rietveld 精修方法想到的 已有7人参与
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提一个想法,和大家讨论一下:做粉末衍射时可以采用Rietveld方法精修材料的结构参数、温度因子以及分析材料的粒度和应力等。其它一些特征谱表征材料比如红外、拉曼光谱等靠特征谱线表征时,是否也可以采用建立模型然后用最小二乘法去拟合实际谱线,并在这个过程中得到精修过的物理参数?关键是否在于建立一个关于谱线的物理模型? |
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