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yingguang

新虫 (小有名气)

[交流] 【讨论】xps能测到分子筛孔道内的元素吗? 已有12人参与

如题,请高手指教。
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nuanfengtj

金虫 (正式写手)

副教授


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by yingguang at 2010-08-09 15:33:25:
如题,请高手指教。

理论上不能,XPS是表面分析的手段。ICP应该是比较好的手段
15楼2010-09-01 20:19:41
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jinkai838

木虫 (著名写手)


yingguang(金币+1):谢谢参与
yingguang(金币+1): 2010-08-09 16:34:04
不能,因为按照XPS的原理来说,它只能是表面分析,测定范围是2-5nm
斜杠青年
2楼2010-08-09 16:15:47
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cosmicking

木虫 (正式写手)


yingguang(金币+1):谢谢参与
^_^@^_^:应该可以的吧,孔的内表面并不是完全密封的,如从孔口方向就可以测出 2010-08-11 11:36:49
SBA-15孔道内表面上的过度金属XPS能测出吗,是不是信号较弱
3楼2010-08-09 21:42:36
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americanyk

荣誉版主 (文坛精英)

Excellent

优秀版主


yingguang(金币+1):谢谢参与
yingguang(金币+1): 2010-08-10 21:45:52
It is impossible, it can just measure the surface. The exact amount of metal can be exactly measured by EDX.
4楼2010-08-09 22:24:07
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