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lichuanji

金虫 (初入文坛)

[交流] 【求助】请问XRD能检查出的最少成分量是多少已有19人参与

我做的是复合材料,SiO2是增强剂,其含量为2wt.%.经过烧结后,经XRD检测,没有看到SiO2的成分相。SiO2应当是不会在烧结过程中分解的。做XRD的老师讲,成分的量太少,所以检测不出来。因此我想请问做XRD能检查出来的最少量是多少?还有像这样检测不出来,能用什么方法证明它的存在?
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lvbo_lin

木虫 (正式写手)

有点学历的农民工

★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
jic8417(金币+1):谢谢参与。 2010-08-18 19:22:25
XRD测成分误差相当大,可用EDS或者XRF,这两者的误差会小些,就是有些元素测不出来,一般测定的元素范围在4-92。
ICP测的元素最广也最精确,可测到ppm级。当然价格也是最贵的。
真诚做人,踏实做事!
12楼2010-08-03 11:53:59
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comma

专家顾问 (知名作家)

材料人

★ ★
lichuanji(金币+2):谢谢参与
zigo(金币+1):谢谢交流! 2010-08-02 13:22:23
一般是质量百分数小于2%就很难分辨出来,如果制成比较理想的粉末可能会测出信号,无论如何,X射线的误差率还是挺大。
复合材料的话,若是块体,可以尝试用SEM下用背散射电子像看看,应该能粗略分析一下。
每天一小步也有新高度
2楼2010-08-02 10:17:34
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santuo

木虫 (职业作家)


lichuanji(金币+2):谢谢参与
X射线的误差率还是较大,SEM\EDS可检测低含量的相
科研,再也不见~
3楼2010-08-02 11:04:26
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dft200188

铁杆木虫 (正式写手)


lichuanji(金币+2):谢谢参与
电子探针应该也可以
燃料电池行业。。。
4楼2010-08-02 11:09:36
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