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[交流]
【求助】用XRD如何测块状金属样品有没有择优取向呢？ 已有5人参与
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最好能把原理简单介绍一下，多谢各位大侠 另外，顺便问一下，这个和EBSD做出来的取向一样吗？ [ Last edited by 大友 on 2010-6-28 at 10:07 ] |
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3楼2010-06-28 10:49:48
comma
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大友(金币+1):谢谢 2010-06-28 10:48:08
yusen_1982(金币+1):欢迎讨论！ 2010-06-28 19:17:34
大友(金币+1):谢谢 2010-06-28 10:48:08
yusen_1982(金币+1):欢迎讨论！ 2010-06-28 19:17:34
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你问的原理是XRD衍射的还是样品处理的？XRD衍射的就是Bragg衍射的道理，根据衍射的2theta角测定某晶体学面的衍射极密度，根据该数据换算成极图数据，然后根据若干极图数据换算取向分布函数ODF。若是仅简单了解有无织构，测两个极图就够了。 如果是样品处理就很简单了，一般要求样品厚在5mm以下，具体要问操作员，不同厂家的仪器略有差异。待测表面尺寸不能过小，太小没有统计性。布鲁克的衍射仪标样尺寸为24*14mm，太大也没有意义，因为扫描的面积就这么大，而且样品台也放不进去。 和EBSD比较起来，XRD具有更好的统计性，EBSD一般都只作为微区分析，只要EBSD区域足够大，结果当然和XRD一样。只要你愿意花银子，EBSD也可以做巨大的扫描区域。此外XRD只能得到你的样品织构，却难以知道织构的分布，EBSD具有对应具体的微观组织的取向统计。 [ Last edited by comma on 2010-6-28 at 10:30 ] |
2楼2010-06-28 10:27:37
comma
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4楼2010-06-28 11:07:00
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