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大友

铜虫 (小有名气)

[交流] 【求助】用XRD如何测块状金属样品有没有择优取向呢? 已有5人参与

最好能把原理简单介绍一下,多谢各位大侠

另外,顺便问一下,这个和EBSD做出来的取向一样吗?

[ Last edited by 大友 on 2010-6-28 at 10:07 ]
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comma

专家顾问 (知名作家)

材料人


大友(金币+1):谢谢 2010-06-28 10:48:08
yusen_1982(金币+1):欢迎讨论! 2010-06-28 19:17:34
你问的原理是XRD衍射的还是样品处理的?XRD衍射的就是Bragg衍射的道理,根据衍射的2theta角测定某晶体学面的衍射极密度,根据该数据换算成极图数据,然后根据若干极图数据换算取向分布函数ODF。若是仅简单了解有无织构,测两个极图就够了。
如果是样品处理就很简单了,一般要求样品厚在5mm以下,具体要问操作员,不同厂家的仪器略有差异。待测表面尺寸不能过小,太小没有统计性。布鲁克的衍射仪标样尺寸为24*14mm,太大也没有意义,因为扫描的面积就这么大,而且样品台也放不进去。
和EBSD比较起来,XRD具有更好的统计性,EBSD一般都只作为微区分析,只要EBSD区域足够大,结果当然和XRD一样。只要你愿意花银子,EBSD也可以做巨大的扫描区域。此外XRD只能得到你的样品织构,却难以知道织构的分布,EBSD具有对应具体的微观组织的取向统计。

[ Last edited by comma on 2010-6-28 at 10:30 ]
每天一小步也有新高度
2楼2010-06-28 10:27:37
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大友

铜虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by 大友 at 2010-06-28 09:42:18:
最好能把原理简单介绍一下,多谢各位大侠

另外,顺便问一下,这个和EBSD做出来的取向一样吗?

[ Last edited by 大友 on 2010-6-28 at 10:07 ]

不好意思,我主要想问的是分析步骤的,
比如说我现在有了一个xrd的谱图,怎么知道有没有择优取向呢?
或者,我现在想知道我的样品有没有择优取向,xrd应该怎么操作和分析呢?

[ Last edited by 大友 on 2010-6-28 at 10:53 ]
3楼2010-06-28 10:49:48
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comma

专家顾问 (知名作家)

材料人

XRD图谱是看不出来织构的,需要作出极图或ODF。
XRD的数据是用衍射仪测定出来的,作为用户你不需要懂其原理,把符合规格的样品给实验员就是了。
至于如何分析织构,那是一个需要花点时间的事,建议楼主参考梁志德、毛卫民、张新民、杨平等人编写的织构分析书。
若是简单了解的话,拿到测试出来的极图,看看极图里的等高线是否均匀漫散,若漫散就弱织构,若有显著的“眼睛”圈那就是有择尤取向了。
每天一小步也有新高度
4楼2010-06-28 11:07:00
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GAOPEIKUO

铜虫 (正式写手)

XRD四环衍射仪是用来分析织构的。根据XRD的图谱很难分析,不同的取向phi的峰值位置不同,以(200)来说,在phi(0-360°)的面内外扫描图上就有4个峰,摇摆曲线FWHM越小,其表明织构越锐利。一般的用XRD四环衍射仪上自带的软件,能够算出各种不同取向的含量,给出极图和ODF图。深入的,我也不太了解。
5楼2010-06-28 11:20:10
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大友

铜虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by 大友 at 2010-06-28 10:49:48:

不好意思,我主要想问的是分析步骤的,
比如说我现在有了一个xrd的谱图,怎么知道有没有择优取向呢?
或者,我现在想知道我的样品有没有择优取向,xrd应该怎么操作和分析呢?

[ Last edited by 大友 on 2 ...

想要极图的话是不是要做EBSD
XRD能不能根据峰的高低来判断在某个晶向上有择优取向呢?
6楼2010-06-28 15:40:29
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智慧海

金虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by 大友 at 2010-06-28 15:40:29:

想要极图的话是不是要做EBSD
XRD能不能根据峰的高低来判断在某个晶向上有择优取向呢?

可以,峰越高就说明该种取向越集中
7楼2010-06-28 16:02:31
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yin18

银虫 (小有名气)

大友(金币+1):谢谢 2010-06-30 23:22:28
其 实用XRD 做个2θ扫描,根据出来的峰的强弱(各个峰之间的比),再和标准的无取向的谱线峰的强弱去比是可以初步判定有没有织构取向的。在判定完了之后,就可以用4楼的方法做出几个简单晶面的极图,接下来还可以做ODF 之类的。
   ebsd做晶粒取向分布测定需要大面积或者多点,而且制样巨麻烦!所以如无特殊情况,XRD做织构最合适
厚积薄发
8楼2010-06-28 17:04:57
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