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liuguan

金虫 (著名写手)

计算蠕虫


[交流] 【讨论】光催化性能和结晶度有关系吗? 已有6人参与

我在书上面看到这样一句话说,掺杂杂质离子会引起半导体晶格的畸变,降低离子结晶度,增加缺陷位置等多方面的作用。从而影响半导体粒子的光催化性能。

请教高手赐教。

而结晶度都是用什么仪器表征的?
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wtwaiting

木虫 (著名写手)

★ ★ ★
小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
nxl5096224(金币+2):谢谢参与 2010-05-24 08:50:05
引用回帖:
Originally posted by liuguan at 2010-05-18 20:18:35:
我在书上面看到这样一句话说,掺杂杂质离子会引起半导体晶格的畸变,降低离子结晶度,增加缺陷位置等多方面的作用。从而影响半导体粒子的光催化性能。

请教高手赐教。

而结晶度都是用什么仪器表征的?

结晶度可以用XRD来表征,假如你是用TiO2的光催化,其中有无定形和锐钛矿型,可以通过无定形和锐钛矿型的峰的强度对比。同理也适合用于金红石和锐钛矿互存情况。另外张青红的一篇论文里面提及用热重方法测定无定形中TiO2的锐钛矿的含量。这几个方法比较适合单一的TiO2结晶度的算法。
    如果你是用负载型的,比如我们课题组用的SiO2表面负载TiO2的结晶度就比较难表征,SiO2无定形的干扰很大。想用一些内标,但是又苦于没有相同粒径的纯锐钛矿的TiO2,这方面确实正在努力中。

    另外个人觉得如果是单单定性的话,很简单就看离子掺杂之后,TiO2结晶峰是不是变弱了,当然是要在类似的半峰宽的条件下。
4楼2010-05-18 22:47:53
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