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【求助】求助阻抗谱中高频感抗的问题，重新发一个，刚才图没传上去 已有4人参与
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各位好，小弟做的是固体氧化物燃料电池电解质方面的研究，用阻抗谱测试材料本身的电导率，有几个问题各位帮我分析一下 第一，我是从三百度到八百度做阻抗谱，低温下得到的谱图和理论上的很一致，出现晶粒和晶界两个半圆，而高温下在第四象限出现很大一段抛物线，我在网上查阅说是感抗造成的，我想问具体是什么原因引起的抛物线，是我制作试样的问题还是其他。这个第四象限的抛物线能不能避免 第二，我主要关注材料的电导率，也就是晶粒圆，在出现第四象限抛物线的情况下，数据应该怎么处理，拟合出的第一象限的圆的直径是否能代表材料电阻 第三，高温下的半圆是晶粒还是晶界的该怎么确定 我贴两个图，不胜感激！！   |
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goldenyouth
木虫 (小有名气)
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小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
| 我是做SOFC的，但是不做电解质。只能说一些自己了解的方面，感抗是由于仪器以及导线，噪音等引起的，一般都这么认为，低温情况下因为EIS的阻抗比较大，所以这方面的影响不是很显著，高温情况下，因为EIS的阻抗比较小，所以这方面就显得比较显著，一般的处理方法是可以把这部分去掉，因为它不属于体系的，而且至今的一些现象都没有太好的解释。至于你说的高温情况下出现的半圆是晶界还是晶粒，这个你得看看这个半圆的频率范围，对应以下你低温的两个半圆的频率范围，然后再综合一下你的体系高温情况下的特点，就可以缺点对应哪个部分。另外，还有BODE图等可以帮助你看看到底是一个圆消失了，还是两个圆重合了，都是比较有效的方法。其实有的时候从NYQUIST图上看好像是一个园，但是从别的图上看应该是部分重合的两个半圆。因为对电解质这一块我了解比较少，上面的只是我自己的了解，仅供参考吧。 |
5楼2012-04-05 16:54:26
wangwenj123
木虫 (著名写手)
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- 专业: 电路与系统
3楼2010-05-04 16:33:26
4楼2010-05-04 22:52:16
