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在天涯铁杆木虫 (知名作家)
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[交流]
【求助】如何由透射光谱拟合得到参数 已有12人参与
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最近做了二氧化钛掺杂的透射光谱，需要分析得到折射率n，膜的厚度t，消光系数k以及禁带宽度。以前不是做这个的，所以一窍不通，虽然看了很多文献，还是不知所措。文献上提到拟合得到数据，那么拟合用的程序是自己编的还是购买的？ 期待高手和过来人指导指导！谢谢！ 说得好重重有金币奉送！  [ Last edited by 在天涯 on 2010-4-28 at 10:34 ] |
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在天涯(金币+30):说得好，我试试，多谢版主！ 2010-04-28 13:36
在天涯(金币+30):我试了，可以，不过过程挺繁琐的，但真的不错，谢谢！ 2010-05-05 07:34:09
在天涯(金币+30):我试了，可以，不过过程挺繁琐的，但真的不错，谢谢！ 2010-05-05 07:34:09
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哎、俺做为荣誉版主，总得给物理版尽些力啊。 其实折射率测试是个难题，即便是椭偏仪也是个不精确的值，与之相比透射光谱法师个简单的方法。 如何操作， 这个我知道， 。怎么操作？看这片论文吧Ref：Marquez, E., J. Ramirez-Malo, et al. (1992). "Calculation of the thickness and optical constants of amorphous arsenic sulphide films from their transmission spectra." Journal of Physics D: Applied Physics 25(3): 535-541，按照上面一步步做就可以了，挺麻烦的。不过能行。 包络线原理：因为有了层薄膜，那么光在穿透这层薄膜时就会发生干涉，而干涉一定是与衬底以及薄膜折射率有关的，故而如果测得了透射光谱就可以反过来求得折射率。 包络线法简介：n=[N+(N2-S2)0.5]0.5 N=2S(TM-Tm)/(TMTm)+(S2+1)/2 d=l1l2/2(l1n1-l2n2) n、d为薄膜的折射率和厚度；l1、l2、n1、n2、分别对应试样透过率曲线的两个相邻峰顶波长和折射率，TM 和 Tm是在同一波长下的最大和最小的透过率，S 为基片的折射率 origin实现包络线的方法： 1. 从TOOLS菜单中调出PICK PEAKS命令（7.0-7.5版），在打开的寻峰设置对话框中只勾选POSITIVE（第一部分选项中），一般其它默认值不变，点FIND PEAKS按钮后查看结果，如果不满意，可以调整寻峰方框大小再找。 2. 在图形窗口下，双击曲线的峰值标记，打开峰标记设置对话框，点击下面的WORKSHEET按钮，打开峰值对应的数据表格，将其中的PEAK（X）和PEAK（Y）复制后粘贴到一个新的数据表格中。 3. 以向图层中添加数据的方式将这组数据加入到原始数据图中，得到上包络线。 4. 同样方式寻负峰，得到下包络线。 5. 由于数据点较少，且又采用直接连接，所以包络线可能显示为折线。处理的方法：一是改变连接方式为SPLINE；下是对其进行插值处理增大数据点数；三是对其进行曲线拟合。 我就是用这法子弄，该说的我都说了，不能只看不做，勇于尝试，祝你顺利。 [ Last edited by ddx-k on 2010-4-28 at 13:21 ] |
5楼2010-04-28 13:08:05
M.K
木虫 (正式写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
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- 性别: GG
- 专业: 半导体光电子器件
2楼2010-04-26 22:56:55
wyraul
银虫 (正式写手)
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- 注册: 2008-01-10
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小木虫:)(金币+5):3q 2010-04-27 14:41
在天涯(金币+10):说得好，我看看，不懂的还要请教您 2010-04-28 10:28
小木虫:)(金币+5):3q 2010-04-27 14:41
在天涯(金币+10):说得好，我看看，不懂的还要请教您 2010-04-28 10:28
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带隙：透射谱从较大值突变到较低值那一个区间就是带隙附近的反应。因为低于带隙的光子不能激发电子空穴对，不能直接形成光吸收，所以透射会很大，TiO2应该大于80%左右。高于带隙部分则由于吸收难以透射，所以透射会较低，当然这得取决于你的膜厚了。你可以用1-T把透射谱转换为吸收普，然后再利用直接吸收的经验公式拟和得出带隙。（注：由于你的这个样品是参杂的，要注意区分杂质能级引起的吸收） 对于其他的光学参数你可以从光学的薄膜相干来推算,及利用你的投射普的振荡部分. 公式你可以查阅相关的光学书籍 |
3楼2010-04-27 09:06:44
孙?�730
至尊木虫 (知名作家)
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4楼2010-04-27 14:00:36