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Einstein9818

金虫 (著名写手)

[交流] 【求助】透射电镜制样 已有12人参与

球磨后得到的铜铌合金,形状大概是直径4mm,厚0.5mm的铜片,想做TEM样品,以前师姐都是用离子减薄做的,双喷不行好像是因为球磨完的样品里边应力太大,双喷时还没喷到需要的厚度,样品薄区就崩掉了,我看见文章里头有人用叫做“超薄切片法”制做球磨完的TEM样品的
对于制备上边说的里边有很大残余应力的TEM样品,希望大家给个建议
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caodong2000

银虫 (正式写手)

Einstein9818(金币+3):离子减薄和FIB哪个对样品的影响更大一些呢,尤其是对样品内部的缺陷状态的影响 2010-04-25 10:12
我觉得用离子减薄就完全可以达到目的啊 没必要FIB吧
11楼2010-04-25 09:49:43
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caodong2000

银虫 (正式写手)

引用回帖:
Originally posted by caodong2000 at 2010-04-25 09:49:43:
我觉得用离子减薄就完全可以达到目的啊 没必要FIB吧

我觉得应该是离子减薄拔
18楼2010-04-25 12:37:57
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