| 查看: 2067 | 回复: 13 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | |||
liujiahui木虫 (著名写手)
|
[交流]
【请教】为什么AFM样品表面出现小坑 已有10人参与
|
||
|
本人拟用AFM轻敲模式检测一纳米颗粒的大小。可是，最近的几次实验，不仅在mica上看不到颗粒，反而看到了很多小坑。 由于欲检测的颗粒大小未知，在5微米的范围内看到了一些几十个nm的颗粒，然而，缩小范围，以往都观察到了大量的0.5-0.8nm的小颗粒。 这两次的实验里，这些小颗粒，变成了小坑。 这两次实验和以往的不同还有就是，高度整体的分布。以前的实验里，一张图扫下来总是中间高两边低（被告知就是这样子的，我也不知道这是不是普遍现象，因为这个是可以经过处理去掉的，而文献里的AFM图应该都经过处理）；这两天扫出的谱，都是中间低，两边高。不知这与颗粒变小坑有没有关系。这些疑似是颗粒或者疑似是小坑的东西，是真实存在的吗？是样品还是mica上固有的呢？还是哪里调节的有问题呢？ 完全门外汗，现在傻傻的一张一张扫，感觉完全是在浪费时间。。。。望高手指点迷津。 纳米盘原文件： http://www.namipan.com/d/N-1-P-1 ... 13fb31b775253191800  [ Last edited by liujiahui on 2010-4-16 at 21:37 ] |
回复此楼
liujiahui(金币+1):怎么看出有电子学噪音呢？电流图怎么调？T_T 2010-04-19 05:12
|
本帖内容被屏蔽 |
9楼2010-04-17 15:19:58
2楼2010-04-16 07:43:33
charley86577
至尊木虫 (职业作家)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 13132.6
- 散金: 170
- 红花: 1
- 帖子: 3826
- 在线: 379.4小时
- 虫号: 336600
- 注册: 2007-04-01
- 性别: GG
- 专业: 碳素材料与超硬材料
3楼2010-04-16 08:09:17
yanhuostar
银虫 (正式写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 805.8
- 红花: 1
- 帖子: 374
- 在线: 123.3小时
- 虫号: 430532
- 注册: 2007-08-11
- 专业: 光子与光电子器件
4楼2010-04-16 08:21:48
40